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探讨

  • 基于CAN 总线的智能馈线终端的研究

    介绍一种基于CAN 总线和交流同步采样技术的新型智能馈线终端。重点探讨了该馈线终端的工作原理,系统构成及软件设计思路。随着国民经济的发展,电力用户对供电质量和供电可靠性的要求越来越高,实

    /dl/201673.html

    标签: 总线

    上传时间: 2021-01-03

    上传用户:maizezhen

  • 基于FPGA的电力系统谐波检测方法

    随着技术的飞速发展,电力电子装置如变频设备、变流设备等容量日益扩大,数量日益增多。由于非线性器件的广泛使用,使得电网中的谐波污染日益严重,给电力系统和各类用电设备带来危害,轻则增加能耗,缩短设备使用寿命,重则造成用电事故,影响安全生产,电力谐波已经成为电力系统的公害。除了传统的滤波方法,例如,无源滤 ...

    /dl/201728.html

    标签: FPGA

    上传时间: 2021-01-04

    上传用户:ahbeng1234

  • 基于状态空问平均法分析BOOST变换器的稳定性

    本文通过状态空间平均法得到了Boost变换器的占空比到输出的传递函数,从而进一步得到了Boost变换器的开环传递函数,并初步探讨了这类开关电源的稳定性分析方法,对Bost变换器的设计具有一定的指导作用

    /dl/201741.html

    标签: BOOST 分析

    上传时间: 2021-01-04

    上传用户:laipibaobao

  • 基于ARM架构的嵌入式人脸识别技术研究

    嵌入式人脸识别系统建立在嵌入式操作系统和嵌入式硬件系统平台之上,具有起点高、概念新、实用性强等特点。它涉及嵌入式硬件设计、嵌入式操作系统应用开发、人脸识别算法等领域的研究;嵌入式人脸识别系统携带方便、安装快捷、机动性强,可广泛应用于各类门禁系统、户外机动布控的实时监测等特殊场合,因此对嵌入式人脸识别的 ...

    /dl/201801.html

    标签: 人脸识别

    上传时间: 2021-01-04

    上传用户:dinghe

  • Profibus现场总线通讯技术的应用研究

    鉴于通信问题是现场总线控制系统集成的一个主要问题,本文探讨了现场总线的拓扑结构,以Profibus-DP 工控网为基础,分析了其通信机理和链接方式,并建立了基于PLC 的主从站式控制现场总线网络。阐述

    /dl/201989.html

    标签: Profibus 现场总线 应用研究

    上传时间: 2021-01-06

    上传用户:zhhuan

  • 城市电力负荷特性分析及其优化控制

    《现代电力》2005年6月文章--城市电力负荷特性分析及其优化控制,详细探讨了一种基于长期边际成本原理设计的两部制电价结构体系,给出了这一价格体系设计的具体方法和过程。

    /dl/202068.html

    标签: 城市 及其 优化控制

    上传时间: 2021-01-07

    上传用户:wxfhj79

  • 基于ARM嵌入式无线点菜系统终端的研究与设计

    无线电子点菜系统是餐馆实行信息化管理的一个重要组成部分,该系统的应用不仅会给餐饮企业带来良好的经济效益,而且有利于先进的科学技术在国民经济中的推广应用,产生良好的社会效益。目前国内点菜系统高、低档产品繁多,但推广速度十分缓慢,究其原因是缺少适合中国国情的中档适用产品。本文通过分析国内市场现有的各种点 ...

    /dl/202118.html

    标签: 嵌入式无线

    上传时间: 2021-01-08

    上传用户:myhonghu

  • 基于GSM 短消息接口的MC3 一体化遥测系统

    研究GSM 网络的短消息业务在遥测系统中的应用;探讨MC3 一体化的测试系统结构;给出基于GSM 网络的MC3 一体化遥测系统的实例,并详细讨论系统硬件和软件的设计。

    /dl/202239.html

    标签: 学术论文

    上传时间: 2021-01-10

    上传用户:Shuangcent

  • 中心化模糊系统CTSK的分析及应用

    从一个新角度重新探讨TSK模糊系统建模问题,引入并分析推导一种新的TSK模糊系统——CTSK。与传统TSK模糊系统相比,CTSK模糊系统具有良好的可解释性、更好的鲁棒性和较强的逼近能力。仿真实验结果有

    /dl/202254.html

    标签: CTSK 分析

    上传时间: 2021-01-10

    上传用户:358946907

  • 基于BIST的带时延故障的FPGA测试

    随着超大规模集成电路的迅速发展,90纳米技术已经应用,上千万门的集成电路已经产生。一方面,芯片封装越来越小,引脚越来越密,印制电路饭的密度日益增大,芯片的互连测试成为一个亟待解决的问题。另一方面,芯片或功能模块内部有很多节点无法探测,对这些节点和功能块测试是又一个测试的难题。随着集成电路的进一步发展, ...

    /dl/202374.html

    标签: BIST FPGA

    上传时间: 2021-01-12

    上传用户:爱死爱死