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线性稳压器

  • 基于ARM和禁忌搜索的变电站电压无功优化控制

    变电站电压无功综合控制是通过自动调节有载变压器的分接头和投切并联补偿电容器组来实现的,它是确保电压质量和无功平衡、提高供电网可靠性和经济性的重要措施。采用九区图控制策略的电压无功综合控制,实际运行时存在着频繁调节变压器分接头和投切电容器组的缺陷,甚至可能会出现震荡现象。 本文针对上述不足,根据有功功 ...

    /dl/201301.html

    标签: OS-II

    上传时间: 2021-01-01

    上传用户:tulaa

  • MATLAB在复杂电路分析中的应用研究

    《电路理论》是电类专业非常重要的专业基础课,其中,线性含源一端口的戴维南定理及正弦稳态电路的分析计算是大家普遍反映难于理解的内容。本文以《电路理论》中典型的直流电阻电路和含有复数运算的正弦稳态电路的分

    /dl/201461.html

    标签: MATLAB 复杂电路 分析

    上传时间: 2021-01-02

    上传用户:夏末

  • 双参量偏振调制光纤传感器输出信号的分离与线性化

    分析了用一个传感头实现双参量测量的偏振调制光纤传感器的工作原理,表明该传感器能同时输出两路信号,其中一路利用泡克耳斯效应测电压或利用光弹效应测压力,另一路利用旋光效应测温度。但其输出的两个测量参量之间

    /dl/201646.html

    标签: 参量 偏振

    上传时间: 2021-01-03

    上传用户:olivezhao

  • 基于ARM和嵌入式以太网技术的微机保护装置的研究

    目前运行的微机保护装置的CPU大多数还是采用16位单片机,由于其处理速度慢,不易实现更强的保护功能。软件上大多还是采用汇编语言编程,并且还是采用传统的线性程序流程,不便于软件的升级和维护。本文在充分分析和吸收当前微机保护装置的先进技术和经验后,设计了一种基于ARM和嵌入式实时操作系统μC/OS-Ⅱ的微机线路保护 ...

    /dl/201656.html

    标签: 学术论文

    上传时间: 2021-01-03

    上传用户:台下第一

  • Fairchild LED Power Solutions

    更少的零件使得小功率充电器,适配器等变得越来越小•低的总成本可以逐渐取代能效很低的线性电源•无需次级反馈实现精确恒压恒流•更具总成本竞争力

    /dl/201763.html

    标签: Fairchild Solutions Power

    上传时间: 2021-01-04

    上传用户:kaisherxy

  • 基于ARM架构的嵌入式人脸识别技术研究

    嵌入式人脸识别系统建立在嵌入式操作系统和嵌入式硬件系统平台之上,具有起点高、概念新、实用性强等特点。它涉及嵌入式硬件设计、嵌入式操作系统应用开发、人脸识别算法等领域的研究;嵌入式人脸识别系统携带方便、安装快捷、机动性强,可广泛应用于各类门禁系统、户外机动布控的实时监测等特殊场合,因此对嵌入式人脸识别的 ...

    /dl/201801.html

    标签: 人脸识别

    上传时间: 2021-01-04

    上传用户:dinghe

  • 多年UG技巧收集

    1。旋转: MB2 2。平移: SHIFT+MB2 或者 MB2 + MB3 3。缩放: CTRL +MB2 或者 MB2 + MB1 4。当平移工作坐标系时通过向下按住ALT键,你可以执行精确定位。 5。制图中,你可以在线性尺寸上用SHIFT-拖动来创建狭窄型尺寸。 6。 您可以双击在资源条中的导航器或调色板标签,以使它们跳出去并可单独放置。 7。当作 ...

    /dl/201985.html

    标签: 技巧

    上传时间: 2021-01-06

    上传用户:呵呵哒哒哒

  • 基于ISFET 的克咳敏传感器的研究

    本文报道了一种测定克咳敏的新方法,用硅钨酸作为电活性物质,将离子敏感场效应晶体管与药物敏感膜相结合,制成药物敏感场效应晶体管传感器,测定克咳敏的线性范围为5. 0 ×10 - 2~5. 0 ×10 -

    /dl/202166.html

    标签: 场效应晶体管 敏感 测定

    上传时间: 2021-01-09

    上传用户:xiaozhu078710

  • 一种基于身份的门限盲签名方案

    基于身份、门限和盲是当代密码学领域3个重要的概念。该文结合已有盲签名和门限签名,提出一种利用双线性对实现基于身份的门限盲签名的构造方案。分析结果表明,与已有基于身份的数字签名相比,该方案易于实现,且保

    /dl/202222.html

    标签: 身份

    上传时间: 2021-01-09

    上传用户:18085149936

  • 基于BIST的带时延故障的FPGA测试

    随着超大规模集成电路的迅速发展,90纳米技术已经应用,上千万门的集成电路已经产生。一方面,芯片封装越来越小,引脚越来越密,印制电路饭的密度日益增大,芯片的互连测试成为一个亟待解决的问题。另一方面,芯片或功能模块内部有很多节点无法探测,对这些节点和功能块测试是又一个测试的难题。随着集成电路的进一步发展, ...

    /dl/202374.html

    标签: BIST FPGA

    上传时间: 2021-01-12

    上传用户:爱死爱死